赫爾納供應(yīng)德國PN Detector電子探測器

赫爾納供應(yīng)德國PN Detector電子探測器

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng),德國總部直接采購，近30年進口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品，為您提供一對一好的解決方案，貨期穩(wěn)定。

公司簡介：

PNDetector 是一家探測器制造商，其產(chǎn)品用于微量分析、質(zhì)量和材料科學(xué)。該公司成立于 2007 年，位于慕尼黑的西門子技術(shù)園區(qū)。我們的設(shè)施包括我們自己的硅傳感器生產(chǎn)線以及包裝和鑒定區(qū)域。PNDetector 的重點是用于 X 射線和電子能譜和成像的標(biāo)準(zhǔn)和探測器，例如pin 二極管、硅漂移探測器 (SDD)和pnCCD。

PN Detector電子探測器主要產(chǎn)品：

PN Detector電子探測器

PN Detector電子探測器產(chǎn)品型號：

STD-BSD-80-4-1-20

STEM-22-4-3-BF15

PN Detector電子探測器產(chǎn)品特點：

低至3 pF/通道的低傳感器電容可實現(xiàn)高速成像并支低噪聲特性

涵蓋0.5 keV至 300 keV的一次能量范圍

信號快速上升時間低至10 納秒

幾何收集效率達(dá) 65%，可實現(xiàn)高的信號強度和對比度

PN Detector電子探測器產(chǎn)品應(yīng)用：

PN Detector電子探測器PNDetector的標(biāo)準(zhǔn)BSD是用于電子檢測的高速環(huán)形分段p-i-n二極管.其主要應(yīng)用是掃描電子顯微鏡(SEM)中的背散射電子(BSE)檢測。設(shè)計優(yōu)化了在掃描電鏡極片下實現(xiàn)，結(jié)合了高速和高電子收集效率的優(yōu)點，但在陶瓷復(fù)合襯底上的BSD二極管可用于需要快速電子檢測的場合。

PN Detector電子探測器簡單性和高光譜精度這就是我們用于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的基礎(chǔ) SDD 所帶來的優(yōu)勢。各種探測器模塊的能量分辨率值為 127 eV FWHM @ Mn-Kα，且操作簡單，且。它們覆蓋的活動區(qū)域范圍為 5 mm 2至 30 mm 2。

PN Detector電子探測器高光譜精度，能量分辨率值低至125 eV FWHM @ Mn-Kα，低光譜背景，P/B 值達(dá)20 000，P/V 值達(dá) 4 000，使在很短的處理時間內(nèi)也具有好的能量分辨率，是對于我們的液滴形 SD3 探測器，我們的 SDD plus探測器還可提供大的活動區(qū)域，測器模塊均配有鈹窗或超薄聚合物窗 (UTW) 和平面薄窗 (PTW)，用于輕元素檢測PNDetector 的彩色 X 射線相機 (CXC) 提供具有空間分辨率和光譜分辨率的圖像。PN Detector電子探測器我們的相機可實現(xiàn)達(dá) 1000Hz 幀速率的高速測量，并在軟 X 射線領(lǐng)域具有出色的光譜性能。數(shù)據(jù)以完整的原始數(shù)據(jù)集以及方便的數(shù)據(jù)立方體的形式提供，其中保存了每個單獨像素的完整 X 射線光譜。PN Detector電子探測器該相機系統(tǒng)可應(yīng)用于科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域，例如材料分析、地質(zhì)學(xué)、藝術(shù)和考古學(xué)。PN Detector電子探測器用于 SEM 和 TEM 中掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 的電子探測器掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 是一種流行技術(shù)，可應(yīng)用于 SEM 和 TEM 中的各種樣品。PN Detector電子探測器電子以低于入射光束會聚角（明場，BF）的角度透射穿過樣品后被檢測到，電子以高散射角（環(huán)形暗場，ADF）或高的散射角（高角度環(huán)形暗場，HAADF）傳播。

PN Detector電子探測器PNDetector 的環(huán)形 STEM 探測器基于厚度為 450 μm的pin 二極管。這將信號電容值小化至幾個 pF，這是實現(xiàn)高檢測器速度和低噪聲水平的。 與我們的獨立 4 通道前置放大器組合成一個完整的探測器模塊。PN Detector電子探測器該前置放大器尺寸緊湊，為 33 mm x 29 mm x 5.5 mm，適用于 BSD 二極管周圍空間有限的應(yīng)用。它配備了兩根柔性引線電纜，可從一側(cè)連接到我們的標(biāo)準(zhǔn) BSD，并從另一側(cè)連接到主放大器。